產(chǎn)品名稱：TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡
產(chǎn)品型號：
更新時間：2026-07-02
產(chǎn)品特點：TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡 是一款功能分析型鎢燈絲掃描電鏡，專為常規(guī)材料的實驗室設(shè)計。它具備集成的TESCAN Essence™ EDS分析平臺，優(yōu)化的成像能力和實時電子束追蹤技術(shù)，確保高效、低成本的樣品檢測與分析。其直觀的軟件設(shè)計和多種用戶定制功能使其易于操作，并能滿足不同應(yīng)用需求。此外，該設(shè)備還具備防碰撞保護和節(jié)能選項，確保使用環(huán)保。
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡 秉承了前一代 VEGA 系列電鏡的優(yōu)異性能，是一款入門級，但是功能分析型鎢燈絲掃描電鏡。緊湊簡約的配置、優(yōu)化的成像能力以及集成的元素成分分析功能，VEGA COMPACT 為研究常規(guī)材料的實驗室提供一個高性價比的解決方案。VEGA COMPACT 采用了最新的 Essence™ 電鏡控制軟件，使得掃描電鏡成像和成分實時分析能夠集成在同一個窗口中實現(xiàn)。這種結(jié)合大大簡化了獲取樣品形貌信息和成分?jǐn)?shù)據(jù)的過程，使得 VEGA COMPACT 以其高效率、低成本成為實驗室常規(guī)材料檢測、質(zhì)量控制、失效分析以及實驗室研究行之有效的分析解決方案。
主要特點：
集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺，可在 Essence™ 軟件的同一個窗口中實現(xiàn)掃描電鏡實時成像和成分分析。
TESCAN 獨特的無機械光闌光路設(shè)計及實時電子束追蹤技術(shù) (In-flight Beam Tracing™)，可快速獲得最佳的成像和分析條件。
獨特的大視野光路（Wide Field Optics™）設(shè)計，可實現(xiàn)最小放大倍率低至2倍，因而無需額外的光學(xué)導(dǎo)航相機，即可輕松、精確的對樣品進行導(dǎo)航。
直觀、模塊化的 Essence™ 軟件設(shè)計，不同經(jīng)驗等級的用戶均可輕松操作。
Essence™ 3D 防碰撞模型，可確保樣品臺和樣品移動時，安裝在樣品室內(nèi)探測器的安全性。
可選配的真空緩沖節(jié)能單元可顯著縮短機械泵的運行時間，提供一款環(huán)保、高經(jīng)濟效益的電子顯微鏡。
全新的 TESCAN Essence™ 軟件
TESCAN VEGA COMPACT 采用 TESCAN Essence™ 多用戶電鏡操作軟件，具有快速搜索、操作步驟撤銷/重做和預(yù)設(shè)參數(shù)等多種快速功能，實現(xiàn)更高效的樣品分析工具。軟件允許和表征。用戶可以根據(jù)實際操作水平或特殊應(yīng)用需求的不同在軟件中自定義界面布局，也可以在軟件上設(shè)定自己的專屬界面，只顯示滿足自身應(yīng)用需求的功能和圖標(biāo)。這種簡化后的布局方式可以更好的幫助接觸電鏡不久的操作人員輕松掌握掃描電鏡成像和能譜分析。
TESCAN VEGA 用于常規(guī)材料微米級的表征、研究和質(zhì)量控制應(yīng)用的 分析型鎢燈絲掃描電子顯微鏡 TESCAN VEGA 第四代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實時分析集成于同一個掃描窗口中。這種組合大大簡化了樣品表面形貌的采集及所含元素的數(shù)據(jù)分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實驗室中常規(guī)材料等檢測提供更高效的分析的解決方案。 主要特點: ? 集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺，在 Essence™ 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實現(xiàn) SEM 成像和元素成分分析。 ? TESCAN 采用獨特的無機械光闌設(shè)計，采用實時電子束追蹤（In Flight Beam Tracing™）的技術(shù)，可幫助用戶快速獲得電鏡的最佳成像及分析條件。 ? 獨特的大視野光路（Wide Field Optics™）設(shè)計，2倍的放大倍數(shù)，無需額外的光學(xué)導(dǎo)航攝像頭即可輕松、精確地實現(xiàn) SEM 導(dǎo)航。 TESCAN VEGA 采用創(chuàng)新的電子光學(xué)設(shè)計，確保在需要時即時、無縫地選擇成像或分析條件，無需對任何電子光學(xué)鏡筒內(nèi)的元件進行機械對中。全新集成的 Essence™ EDS 輕松快捷地實現(xiàn)從成像切換到元素分析，通過軟件一鍵即可實現(xiàn)所有設(shè)置參數(shù)的更改。
TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡 主要特點:
? 集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺，在 Essence™ 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實現(xiàn) SEM 成像和元素成分分析。
? TESCAN 采用獨特的無機械光闌設(shè)計，采用實時電子束追蹤（In Flight Beam Tracing™）技術(shù)，可幫助用戶快速獲得電鏡的最佳成像及分析條件。 ? 獨特的大視野光路（Wide Field Optics™）設(shè)計，2倍的放大倍數(shù)，無需額外的光學(xué)導(dǎo)航攝像頭即可輕松、精確地實現(xiàn) SEM 導(dǎo)航。 TESCAN VEGA 采用創(chuàng)新的電子光學(xué)設(shè)計，確保在需要時即時、無縫地選擇成像或分析條件，無需對任何電子光學(xué)鏡筒內(nèi)的元件進行機械對中。全新集成的 Essence™ EDS 輕松快捷地實現(xiàn)從成像切換到元素分析，通過軟件一鍵即可實現(xiàn)所有設(shè)置參數(shù)的更改。
? 直觀、模塊化的 Essence™ 軟件設(shè)計，不同經(jīng)驗等級的用戶均可輕松操作。
? 在樣品臺及裝置的樣品運動過程中，Essence™ 3D防碰撞模塊可以直觀的顯示安裝腔室內(nèi)的探測器及樣品臺的位置信息，提供安全性的保護。
? SingleVac™ 模式作為標(biāo)準(zhǔn)配置，為觀測不導(dǎo)電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。
? 可選配的真空緩沖節(jié)能單元可顯著縮短機械泵的運行時間，提供環(huán)保、高經(jīng)濟效益的電子顯微鏡。
? 模塊化分析平臺，可選配集成最多種類的探測器和附件（如 陰極熒光探測器，水冷背散射電子探測器或拉曼光譜儀等）。
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