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島津 EDX?7000 珠寶行業(yè)完整應(yīng)用方案

一、珠寶領(lǐng)域核心檢測(cè)對(duì)象
1. 貴金屬首飾成色定量(最主要應(yīng)用)
黃金系列:足金、22K、18K、14K、9K 金;檢測(cè) Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd 配比,判定 K 金成色
鉑金 / 鈀金:Pt999、Pt950、Pt900、Pd990、Pd950;區(qū)分鉑、鈀、銠、銥雜質(zhì)
銀飾:足銀、925 銀、835 銀;識(shí)別鍍銀、白銅仿銀
原料:金條、銀料、貴金屬回收料、首飾加工邊角料
典型測(cè)試時(shí)長(zhǎng):30~180 s / 件;支持直接測(cè)量成品戒指、項(xiàng)鏈、吊墜(寶石無(wú)需取下)
2. 鍍層首飾專項(xiàng)檢測(cè)(島津優(yōu)勢(shì))
3. 仿品與造假快速篩查
區(qū)分:實(shí)心貴金屬 vs 鍍金、包金、金包銅、金包鎢(表層檢測(cè)篩查,?無(wú)法穿透厚夾層,僅作初篩)
辨別:白銅 / 不銹鋼仿 925 銀、鎢合金仿鉑金
重要提示:EDX 屬于表面淺層分析,無(wú)法直接判定內(nèi)部夾層,可疑樣品需結(jié)合密度法、火試金等進(jìn)一步驗(yàn)證。
4. 首飾有害元素管控(合規(guī)檢測(cè))
5. 輔助寶石相關(guān)應(yīng)用(定性篩查)
鉛玻璃仿鉆(檢出高鉛)、充填處理寶石元素篩查
天然 / 合成寶石微量元素對(duì)比
? 局限:不能獨(dú)立完成寶石定名;寶石鑒定仍需顯微鏡、紅外、UV?Vis 聯(lián)用。
二、適配珠寶行業(yè)的硬件關(guān)鍵特性
SDD 電制冷探測(cè)器,能量分辨率優(yōu)異,輕重貴金屬元素分離度好
多尺寸準(zhǔn)直器(1/3/5/10 mm 自動(dòng)切換)
1 mm 微區(qū):適合戒爪、細(xì)小鑲口、局部焊點(diǎn)小區(qū)域精準(zhǔn)測(cè)量,避開周邊鑲嵌石干擾
內(nèi)置 CMOS 觀測(cè)相機(jī):精準(zhǔn)定位首飾待測(cè)點(diǎn)位
Rh 靶 X 射線光管,5 檔自動(dòng)濾光片切換,優(yōu)化貴金屬激發(fā)效率
元素范圍:Na~U;含量范圍 ppm~100%
樣品腔尺寸:容納絕大多數(shù)常規(guī)首飾,異形吊墜、手鐲均可直接放入
三、珠寶行業(yè)典型工作場(chǎng)景
場(chǎng)景 1|首飾加工廠來(lái)料 / 成品質(zhì)控
K 金合金熔煉配比在線抽檢
成品出廠成色核驗(yàn)、鍍銠層厚度監(jiān)控
不良品變色腐蝕失效分析(鍍層成分、基材雜質(zhì)溯源)
場(chǎng)景 2|珠寶質(zhì)檢實(shí)驗(yàn)室初篩
大批量樣品快速預(yù)檢;初篩陽(yáng)性樣品再送火試金仲裁(GB/T 18043)。
標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系:ED?XRF 為無(wú)損篩查方法;貴金屬仲裁方法為火試金法。
場(chǎng)景 3|典當(dāng)行、貴金屬回收
場(chǎng)景 4|品牌品控與市場(chǎng)打假
四、珠寶檢測(cè)固有局限性(實(shí)操重點(diǎn))
探測(cè)深度淺(微米級(jí)),僅分析表面
不能識(shí)別厚夾層造假(金包鎢、金包銀),僅能篩查表層;遇到高價(jià)值可疑樣品必須輔以密度、鉆孔或火試金。
表面鍍層干擾
無(wú)鍍層修正模式時(shí),鍍銠 18K 金測(cè)量結(jié)果會(huì)明顯失真,必須啟用島津多層薄膜分析程序。
拋光 / 污垢影響
表面油污、氧化皮、污漬會(huì)帶來(lái)誤差,測(cè)量前建議清潔待測(cè)點(diǎn)位。
不能區(qū)分同位素,無(wú)法直接判斷是否摻銥、釕等重稀土(微量摻假很難單層 XRF 檢出)
五、推薦珠寶檢測(cè)測(cè)量方法設(shè)置
模式:FP 基礎(chǔ)參數(shù)法 + 多層鍍層修正模型(Au?Rh 雙層模型)
優(yōu)先選用 1 mm 準(zhǔn)直器 測(cè)量戒托、細(xì)小鑲位
測(cè)試時(shí)間:貴金屬常規(guī) 120~180 s,提升重復(fù)性
日常校準(zhǔn):配套島津貴金屬標(biāo)準(zhǔn)樣品定期漂移校正
六、同系列橫向?qū)Ρ葏⒖?/span>
EDX?7000:工廠、典當(dāng)、中小型質(zhì)檢性價(jià)比優(yōu)選;Na 起測(cè),滿足貴金屬主流需求
EDX?8100:可選真空、測(cè)碳,更適合礦物、寶石深度微量元素研究,預(yù)算更高



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